微劑量X射線安檢設(shè)備測(cè)試模體

本公司廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司透明玻璃/亞克力透明實(shí)驗(yàn)裝置有著十幾年的加工經(jīng)驗(yàn)擁有專*的技術(shù)知識(shí)和實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，加有利于幫助用戶解決實(shí)驗(yàn)工藝問(wèn)題。非標(biāo)加工產(chǎn)品。產(chǎn)品的尺寸規(guī)格和產(chǎn)品的樣式都是按照客戶要求加工的。加工實(shí)驗(yàn)裝置產(chǎn)品編號(hào)：20230314-01。

X射線安檢機(jī)測(cè)試模體本產(chǎn)品符合GB15208.2- 2018《微劑量X射線檢

查設(shè)備*2部分:透射式行包檢查設(shè)備》要求，產(chǎn)品包括測(cè)試箱體A和測(cè)試箱體B兩部分。

安檢設(shè)備日常測(cè)試體用于日常測(cè)試X射線設(shè)備的成像效果，至少包括圖像解析度測(cè)試體（包括線分辨力測(cè)試卡、穿透力測(cè)試卡）、材料分辨測(cè)試體（包括物階梯、混合物階梯、無(wú)機(jī)物階梯）、常見(jiàn)危險(xiǎn)物品違禁物品測(cè)試體（包括液體、鋰電池、打火機(jī)）等3個(gè)部分。

材料分辨力（本項(xiàng)檢測(cè)適用于能量分辨型安檢設(shè)備）：安檢設(shè)備正常運(yùn)行，測(cè)試體B放置在檢測(cè)區(qū)域傳送帶上的*佳位置，測(cè)試體平面垂直于射線方向，并盡量靠近放射源或者球管，同時(shí)允許采用圖像處理工具以得到*佳測(cè)試體的圖像（這點(diǎn)對(duì)以下各個(gè)性能指標(biāo)測(cè)試皆適用），目測(cè)X射線圖像。

安檢設(shè)備正常運(yùn)行，測(cè)試體B放置在檢測(cè)區(qū)域傳送帶上的*佳位置，測(cè)試體平面垂直于射線方向，并盡量靠近放射源或者球管，同時(shí)允許采用圖像處理工具以得到*佳測(cè)試體的圖像（這點(diǎn)對(duì)以下各個(gè)性能指標(biāo)測(cè)試皆適用），目測(cè)X射線圖像。多詳細(xì)信息歡迎留言或咨詢微劑量X射線安檢設(shè)備測(cè)試模體